177-2120-4048
PTX-FA210S
HZK-FA110
華志HZY-C15000電子天平
美國華志HZY-C10000電子天平
重復(fù)性檢測即檢測華志電子天平對同樣物品重復(fù)測量中的細(xì)微差別,是測量華志電子天平對同樣物品測量中獲取的檢驗結(jié)果是否統(tǒng)一的關(guān)鍵內(nèi)容。具體檢測中,有必要嚴(yán)格控制可能會對實驗結(jié)果構(gòu)成影響的因素,最大限度保證兩次測量開展中具備相一致的外部條件,從而獲取更具可靠性、精準(zhǔn)性的檢定結(jié)果。
本文從闡述了福州華志電子天平的應(yīng)用、特點以及檢定的必要性開始,結(jié)合作者具體工作實踐,圍繞提高該類電子天平的檢定精度,分析與探討了200g-300g/0.1mg電子天平的檢定方法。